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南京回收紅外管收購(gòu)汽車(chē)硬盤(pán)

更新時(shí)間1:2025-10-06 信息編號(hào):c73d7su619a92a 舉報(bào)維權(quán)
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供應(yīng)商 深圳市龍崗區(qū)銀源電子商行 店鋪
認(rèn)證
報(bào)價(jià) 人民幣 999.00元每件
關(guān)鍵詞 回收服務(wù)器硬盤(pán),回收紅外管,收購(gòu)汽車(chē)硬盤(pán),收購(gòu)接插件
所在地 廣東深圳市龍崗區(qū)
王生
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3年

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

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南京回收紅外管 收購(gòu)汽車(chē)硬盤(pán)

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南京回收紅外管 收購(gòu)汽車(chē)硬盤(pán)
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝后測(cè)試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測(cè)試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對(duì)Wafer劃片槽(ScribeLine)測(cè)試鍵(TestKey)的測(cè)試,通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù),測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容,測(cè)完某條TestKey后,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測(cè)試完成。

所屬分類(lèi):電子元器件回收/電子廢料回收

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