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蘇州回收開關(guān)IC收購閃迪CF卡

更新時間1:2025-10-06 信息編號:6d30k7icg618be 舉報維權(quán)
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供應(yīng)商 深圳市龍崗區(qū)銀源電子商行 店鋪
認證
報價 人民幣 999.00元每件
關(guān)鍵詞 回收硬盤,回收開關(guān)IC,收購閃迪CF卡,收購耳機主板
所在地 廣東深圳市龍崗區(qū)
王生
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3年

產(chǎn)品詳細介紹

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半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。

所屬分類:電子元器件回收/電子廢料回收

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