車規(guī)芯片DFN老化座
產(chǎn)品別名 |
芯片老化功能測試座,芯片開短路測試方案,邏輯芯片測試座,模擬芯片測試座 |
面向地區(qū) |
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車規(guī)芯片DFN老化座
該QFN產(chǎn)品系列主要應(yīng)用于新能源汽車車規(guī)芯片高低溫老化、性能
測試使用
適用于PDFN、DFN、 TO等封裝大電流大功率芯片、MOS管
常見的芯片有電源轉(zhuǎn)換芯片老化測試、動力分配傳感器芯片老化測
試、電源管理芯片老化測試
使用環(huán)境溫度高可達(dá)到200°C 85HR@3000小時
主要產(chǎn)品與服務(wù)
■ FPC&連接器微針模組測試方案
■定制測試座&夾具
■ 存儲類芯片測試方案
■ 芯片老化/功能測試座
■ 芯片開短路測試設(shè)備和方案
■邏輯芯片測試座
■模擬芯片測試座
■傳感器測試座
■光電子器件測試座
■分類器件測試座
■芯片拆板及返修服務(wù)
聯(lián)系方式
kathy
電話 :
kathy@
經(jīng)理: 楊先生
電話 :
market@
網(wǎng)址:
銷售中心：深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道流塘大廈2樓208
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