【XRD檢測(cè)】
背景：1912年勞厄發(fā)現(xiàn)晶體X射線衍射現(xiàn)象，1953年沃森-克里克據(jù)此解析DNA結(jié)構(gòu)。
重要性：材料相組成決定力學(xué)性能與化學(xué)穩(wěn)定性，是質(zhì)量控制必檢項(xiàng)目。
產(chǎn)品類型：合金相分析、藥品晶型、礦物組成。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：JCPDS PDF卡片庫(kù)、GB/T 23413（納米材料）。


【原位紅外測(cè)試】
背景：1980年代原位紅外反應(yīng)池商業(yè)化，實(shí)現(xiàn)催化反應(yīng)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)從“離線”到“在線”跨越。
重要性：實(shí)時(shí)捕捉反應(yīng)中間體，揭示CO?加氫、SCR脫硝等反應(yīng)機(jī)理。
產(chǎn)品類型：汽車尾氣催化劑、光催化材料。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：定制化反應(yīng)條件（溫度/壓力/氣氛）。

廣電計(jì)量可以提供的原位紅外測(cè)試-催化反應(yīng)過(guò)程表面物種動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)服務(wù)。

【導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試】
背景：隨著5G芯片功率密度提升，熱管理材料性能評(píng)估需求爆發(fā)式增長(zhǎng)。
重要性：導(dǎo)熱系數(shù)是散熱器選型的核心參數(shù)，偏差10%可導(dǎo)致器件壽命減半。
產(chǎn)品類型：氮化鋁陶瓷、熱界面材料、碳化硅復(fù)合材料。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：ASTM E1461（激光閃射法）、ISO 22007-4（熱流計(jì)法）。

廣電計(jì)量能力：
1、德國(guó)NETZSCH LFA 467 HyperFlash?，溫度范圍-100~1100℃；
2、各向異性材料三維導(dǎo)熱分析；
3、動(dòng)力電池包導(dǎo)熱膠測(cè)試精度±3%。