【TOF-SIMS原位電化學(xué)表征測(cè)試】
TOF-SIMS技術(shù)是什么？TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）技術(shù)是一種高分辨率表面成分分析的方法。它通過將樣本表面轟擊成離子，并利用飛行時(shí)間質(zhì)譜儀測(cè)量這些離子的時(shí)間和質(zhì)量，從而確定樣本的成分及其分布情況。TOF-SIMS技術(shù)不僅可以提供元素分析信息，還可以提供離子組成分析、分子成像等詳細(xì)數(shù)據(jù)。

服務(wù)背景：鋰電池SEI膜形成機(jī)制研究需表面化學(xué)動(dòng)態(tài)分析。
檢測(cè)重要性：實(shí)時(shí)捕捉電極-電解質(zhì)界面副反應(yīng)產(chǎn)物。
檢測(cè)周期：5-7個(gè)工作日.
廣電計(jì)量通過深入研究負(fù)極表面SEI膜的成分和結(jié)構(gòu)，可以為電池材料的改進(jìn)提供重要參考。此外，TOF-SIMS技術(shù)還可以用于研究電池內(nèi)部的化學(xué)反應(yīng)機(jī)制，優(yōu)化電池的工作溫度、電解液成分等條件，提高電池的性能和壽命。隨著技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，TOF-SIMS有望為電池領(lǐng)域的科學(xué)家們提供更多關(guān)鍵的表面分析信息，推動(dòng)電池技術(shù)的不斷創(chuàng)新。



【XRD檢測(cè)】
背景：1912年勞厄發(fā)現(xiàn)晶體X射線衍射現(xiàn)象，1953年沃森-克里克據(jù)此解析DNA結(jié)構(gòu)。
重要性：材料相組成決定力學(xué)性能與化學(xué)穩(wěn)定性，是質(zhì)量控制必檢項(xiàng)目。
產(chǎn)品類型：合金相分析、藥品晶型、礦物組成。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：JCPDS PDF卡片庫(kù)、GB/T 23413（納米材料）。


【原位紅外測(cè)試】
背景：1980年代原位紅外反應(yīng)池商業(yè)化，實(shí)現(xiàn)催化反應(yīng)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)從“離線”到“在線”跨越。
重要性：實(shí)時(shí)捕捉反應(yīng)中間體，揭示CO?加氫、SCR脫硝等反應(yīng)機(jī)理。
產(chǎn)品類型：汽車尾氣催化劑、光催化材料。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：定制化反應(yīng)條件（溫度/壓力/氣氛）。

廣電計(jì)量可以提供的原位紅外測(cè)試-催化反應(yīng)過程表面物種動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)服務(wù)。