您可以為所有的蔡司Xradia Versa 儀器選配原位接口套件，包括機(jī)械集成套件、堅(jiān)固耐用的布線導(dǎo)槽和其它設(shè)施（饋入裝置），以及基于測(cè)試規(guī)程的軟件，它能夠簡(jiǎn)化蔡司“定位- 和- 掃描”（Scout-and-Scan）用戶界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上體驗(yàn)原位裝置高水平的穩(wěn)定性、靈活性和集成控制，得益于其光學(xué)架構(gòu)設(shè)計(jì)，在變化的環(huán)境條件下不會(huì)犧牲分辨率。

Dragonfly Pro：可視化和定量分析的強(qiáng)
大工具Dragonfly Pro 是Object Research SystemORS）公司研發(fā)的一款3D 可視化與分析軟件，蔡司使用該軟件處理掃描電子顯微鏡、雙束離子束電子顯微鏡和X射線顯微鏡的數(shù)據(jù)。Dragonfly Pro 運(yùn)用可視化技術(shù)和的立體渲染，能夠高清地探索集的細(xì)節(jié)信息和特性?？梢栽谕还ぷ髡緝?nèi)記錄多種數(shù)據(jù)，并借助擴(kuò)展的圖像處理功能輕松操作2D 和3D 數(shù)據(jù)。

跨領(lǐng)域融合創(chuàng)新
與掃描探針技術(shù)結(jié)合：實(shí)現(xiàn)場(chǎng)發(fā)射-原子力聯(lián)用成像
低溫場(chǎng)發(fā)射顯微鏡：4K環(huán)境下研究量子限域效應(yīng)
太空應(yīng)用：ESA開發(fā)微型場(chǎng)發(fā)射顯微鏡用于空間站材料失效分析

研究方向
原位表征技術(shù)：集成氣體注入系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)催化反應(yīng)實(shí)時(shí)觀測(cè)（如Hiden Analytical的FEM-Reactor附件）
超快場(chǎng)發(fā)射：飛秒激光激發(fā)下的瞬態(tài)場(chǎng)發(fā)射動(dòng)力學(xué)研究
機(jī)器學(xué)習(xí)輔助分析：采用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)識(shí)別表面缺陷（識(shí)別準(zhǔn)確率達(dá)92%）

成像原理
電子從針尖表面不同晶面發(fā)射時(shí)，由于功函數(shù)差異導(dǎo)致發(fā)射電流變化。這些電子經(jīng)加速后轟擊熒光屏，形成與表面原子排列對(duì)應(yīng)的明暗圖像。例如，鎢（110）晶面因功函數(shù)較低呈現(xiàn)亮斑，而（111）晶面顯示暗區(qū)。

場(chǎng)致電子發(fā)射的物理機(jī)制
當(dāng)金屬表面施加高強(qiáng)度電場(chǎng)（通常>10^7 V/cm）時(shí)，量子隧穿效應(yīng)導(dǎo)致電子穿過表面勢(shì)壘向外發(fā)射。該現(xiàn)象可用Fowler-Nordheim方程描述：
其中J為電流密度，E為電場(chǎng)強(qiáng)度，φ為功函數(shù)，β為場(chǎng)增強(qiáng)因子。場(chǎng)發(fā)射電流對(duì)曲率半徑極為敏感，納米級(jí)針尖可產(chǎn)生局部場(chǎng)增強(qiáng)效應(yīng)。