技術參數:
* 檢測范圍 0--600mm
* 鋼板溫度 0--1200°C
* 鋼板速度 0--25m/s
* 采樣時間 優(yōu)于1ms
* 測量精度 動態(tài)優(yōu)于±0.03%
* 安裝方式 根據要求定制
X射線測厚儀利用X射線管通電產生X射線作為信號源,根據X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換檢測薄膜的厚度,它的特點是放射物質能量低,無需使用許可證,測量精度高,可測量透明或不透明材料,不受添加劑和色母料的影響,不受環(huán)境溫度和薄膜抖動影響。
兩個激光位移傳感器的激光對射,被測體放置在對射區(qū)域內,根據測量被測體上表面和下表面的距離,計算出被測體的厚度。
的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結果顯示系統(tǒng)。激光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上,產生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的位置發(fā)生改變,相應地成像點在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成電離室檢測頭,離子室設計具有大空間,高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統(tǒng)備有風冷、油冷恒溫冷卻單元,延長系統(tǒng)的使用壽命。
薄膜測厚儀根據程序預先設定的計算公式,通過組合不同的標樣厚度并將其置于射線下測量,以得到一組基準數據,并存于PLC中。
薄膜測厚儀由于工作現場環(huán)境復雜,系統(tǒng)工作一段時間后由于各種因素的干擾,系統(tǒng)會產生基準漂移。這時通過系統(tǒng)效驗模塊可以修復這種漂移,以系統(tǒng)測量的準確性