優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心具備掃描電鏡分析能力（SEM&EDS分析），可針對表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點失效分析等進行分析測試。放大倍率可達30萬倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息,準確精度達0.5%。該機臺是質(zhì)量檢驗、失效分析中不可缺少的設(shè)備

場掃描電鏡對樣品要求，如下：
1.樣品要盡可能干燥，若樣品中含有水份，水分揮發(fā)會造成倉內(nèi)真空度急劇下降，導(dǎo)致圖像漂移，有白色條紋，甚至?xí)绊憻艚z壽命；
2.熱穩(wěn)定性好，熱穩(wěn)定性差的樣品往往在電子束的轟擊下分解，釋放氣體和其他物質(zhì)，污染電鏡；
3.導(dǎo)電性好，導(dǎo)電性差的樣品會發(fā)生荷電效應(yīng)，造成圖像畸變，亮點亮線，像散等；
4.不含強磁性，強磁性的樣品觀察一般會出現(xiàn)嚴重的像散，無法消去，磁性粉末如果粘的不牢固還可能會吸附到探頭上，損害電鏡

掃描電鏡分析（SEM+EDS)可實現(xiàn)金屬、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物、復(fù)合材料等幾乎所有固體材料的表面形貌、斷口形貌、界面形貌等顯微結(jié)構(gòu)分析，借助EDS還可進行微區(qū)元素含量分析